首页 馆藏资源 标准快讯 标准数字化 呈缴征集 标准服务 关于我们
正在批准 20242556-T-339
到馆提醒
收藏跟踪
购买正版
半导体集成电路 嵌入式非易失性存储器测试方法 Semiconductor Integrated Circuits—Test Method for embedded non-volatile memory
下达日期: 2024-08-23
分类信息
关联关系
研制信息
归口单位: 全国集成电路标准化技术委员会
起草单位: 存心科技(北京)有限公司、 中国电子技术标准化研究院、 清华大学、 东亘微电子研究(上海)有限公司、 钠存科技(杭州)有限公司、 复旦大学、 北京大学、 安徽华迅科技有限公司、 中国科学院物理研究所、 浙江驰拓科技有限公司、 深圳市昂科技术有限公司、 武汉精测电子集团股份有限公司、 极海微电子股份有限公司、 昇显微电子(苏州)股份有限公司、 联芸科技(杭州)股份有限公司、 鸾起科技(苏州)有限公司、 苏州科美信息技术有限公司、 南京邮电大学南通研究院有限公司、 成都态坦测试科技有限公司、 北京超弦存储器研究院、 深圳市联瑞电子有限公司、 深圳率能半导体有限公司、 合肥格易集成电路有限公司、 深圳市鹏润宁科技有限公司、 深圳科摩思智能科技有限公司、 浙江力积存储科技股份有限公司、 深圳玖合精工科技有限公司、 深圳市华芯半导体装备技术有限公司、 深圳市德明利技术股份有限公司、 珠海市杰理科技股份有限公司、 苏州凌存科技有限公司、 成都芯金邦科技有限公司、 深圳市金泰克半导体有限公司、 北京宽温微电子科技有限公司、 北京智芯微电子科技有限公司、 芯测通(深圳)半导体有限公司、 浙江睿兆芯片半导体科技有限公司、 浙江澜盾电子有限公司、 北京安纳智芯科技有限公司、 北京新忆科技有限公司、 北京忆元科技有限公司、 昕原半导体(上海)有限公司、 中国科学院微电子研究所、 燕芯微电子(上海)有限公司、 国家集成电路创新中心(上海集成电路制造创新中心有限公司)、 成都锐成芯微科技股份有限公司、 美芯晟科技(北京)股份有限公司、 无锡舜铭存储科技有限公司、 成都中嘉微视科技有限公司、 深圳市彦胜科技有限公司、 深圳市优讯佳电子科技有限公司、 合肥康芯威存储技术有限公司
起草人: 苏志强、 周俊、 张秋、 林阳荟晨、 高滨、 唐建石、 姚鹏、 吴巍、 童婧文、 张卫、 周鹏、 闫娜、 蔡一茂、 黄鹏、 刘武、 韩秀峰、 迟克群、 黄斌华、 帅敏、 陈亮、 秦良、 杨微、 蒋辉、 岑彪、 陈光第、 蔡志匡、 姚景祺、 王恒鹭、 徐永刚、 王桂磊、 周永红、 黄涛涛、 王永成、 陈庄、 夏俊杰、 刘胜、 吴伟波、 夏裕、 祁广田、 邓玉林、 朱政、 谢杰志、 李创锋、 张立军、 沈钦义、 邹连英、 王嘉希、 吕立强、 向锐、 王坤、 郝镇齐、 夏卓卿、 崔岩、 罗庆、 王宗巍、 尹睿、 向建军、 杨志勋、 胡禺石、 唐玉峰、 韩胜平、 林志辉、 唐雯雯
相似标准/计划/法规