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JJF(电子)0014-2018
功率半导体器件老化系统校准规范
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Calibration Specification for Power Semiconductor Devices Aging Systems
发布单位或类别：国家计量技术规范
发布日期： 2018-04-30
CCS分类：
ICS分类：
现行
JJF(电子)0013-2018
电力电子器件参数测试设备校准规范
到馆提醒
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Calibration Specification for Power Electronic Devices Parameters Test Equipments
发布单位或类别：国家计量技术规范
发布日期： 2018-04-30
CCS分类：
ICS分类：
废止
DB5113/T 1-2020
《晚熟柑桔生产技术规程》
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发布单位或类别：四川省地方标准
发布日期： 2020-11-16
CCS分类：B05农林技术
现行
DB31/T 965-2016
"发电锅炉安全使用与节能管理 基本要求"
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发布单位或类别：上海市地方标准
发布日期： 2016-01-13
现行
TB/T 2029-2005
铁路人工话务系统设备技术要求和试验方法
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The specification and test methods for manual telephone system for railway
发布单位或类别：行业标准-铁道
发布日期： 2005-03-29
作废
JB/T 10231.17-2002
刀具产品检测方法 第17部分:可转位立铣刀
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Tool inspaction methods Part 17: End milling cutters with indexable inserts
发布单位或类别：行业标准-机械
发布日期： 2002-07-16
CCS分类：J41刀具
ICS分类：25.100.20铣刀
被代替
GB 30530-2014
有机硅环体单位产品能源消耗限额
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The norm of energy consumption per unit product of dimethyl cyclosiloxane
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2014-04-28
CCS分类：F01技术管理
被代替
GB/T 26068-2010
硅片载流子复合寿命的无接触微波反射光电导衰减测试方法
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Test method for carrier recombination lifetime in silicon wafers by non-contact measurement of photoconductivity decay by microwave reflectance
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2011-01-10
现行
JJF 1760-2019
硅单晶电阻率标准样片校准规范
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Calibration Specification for Standard Slices of Single Crystal Silicon Resistivity
发布单位或类别：国家计量技术规范
发布日期： 2019-09-27
CCS分类：A56无线电计量
现行
YS/T 839-2012
硅衬底上绝缘体薄膜厚度及折射率的椭圆偏振测试方法
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Test method for measurement of insulator thickness and refractive index on silicon substrates by ellipsometry
发布单位或类别：行业标准-有色金属
发布日期： 2012-11-07
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