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IEC 63068-2:2019
Semiconductor devices – Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 2: Test method for defects using optical inspection
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半导体器件.功率器件用碳化硅同质外延片中缺陷的无损识别标准.第2部分:光学检验缺陷的试验方法
发布单位或类别：国际电工委员会
发布日期： 2019-01-30
CCS分类：
现行
IEC 62779-3:2016
Semiconductor devices - Semiconductor interface for human body communication - Part 3: Functional type and its operational conditions
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半导体器件人体通信用半导体接口第3部分:功能类型及其操作条件
发布单位或类别：国际电工委员会
发布日期： 2016-04-26
CCS分类：
现行
IEC 60749-24:2025
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST
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半导体器件机械和气候试验方法第24部分:加速防潮无偏试验
发布单位或类别：国际电工委员会
发布日期： 2025-11-27
CCS分类：
现行
IEC 62951-5:2019
Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 5: Test method for thermal characteristics of flexible materials
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半导体器件.柔性和可伸展半导体器件.第5部分:柔性材料热特性的试验方法
发布单位或类别：国际电工委员会
发布日期： 2019-02-27
CCS分类：
已修订
IEC 60749-30:2005+AMD1:2011 CSV
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing
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半导体器件.机械和气候试验方法.第30部分:可靠性试验前非密封表面安装器件的预处理
发布单位或类别：国际电工委员会
发布日期： 2011-08-10
CCS分类：
被代替
IEC 60749:1996
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods
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半导体器件.机械和气候试验方法
发布单位或类别：国际电工委员会
发布日期： 1996-10-28
CCS分类：
被代替
IEC 60147-2G:1975
Supplement G - Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods - Part 2: General principles of measuring methods - Chapter 4: Field-effect transistors
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补充G——半导体器件的基本额定值和特性以及测量方法的一般原理- 第2部分:测量方法的一般原理第4章:场效应晶体管
发布单位或类别：国际电工委员会
发布日期： 1975-01-01
CCS分类：
ICS分类：31.080.10二极管
被代替
IEC 60147-5A:1981
Supplement A - Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods - Part 5: Mechanical and climatic test methods
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补充A——半导体器件的基本额定值和特性以及测量方法的一般原理——第5部分:机械和气候试验方法
发布单位或类别：国际电工委员会
发布日期： 1981-01-01
CCS分类：
ICS分类：31.080.10二极管
现行
IEC 62417:2010
Semiconductor devices - Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs)
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半导体器件 - 金属氧化物半导体场效应晶体管（mosfets）的移动离子测试
发布单位或类别：国际电工委员会
发布日期： 2010-04-22
CCS分类：
现行
IEC 60749-34:2010
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling
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半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第34部分:电力循环
发布单位或类别：国际电工委员会
发布日期： 2010-10-28
CCS分类：
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