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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing 半导体器件机械和气候试验方法第30部分:可靠性试验前非密封表面安装器件的预处理
发布日期： 2005-11-02
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发布单位或类别： 西班牙-西班牙标准
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